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本文主要阐述了在驱动芯片中表征驱动能力的关键参数:驱动电流和驱动时间的关系,并通过实验解释了如何正确理解这些参数在实际应用中的表现。
概述
驱动芯片
功率器件如MOSFET、IGBT需要驱动电路的配合从而得以正常地工作。图1显示了一个驱动芯片驱动一个功率MOSFET的电路。当M1开通,M2关掉的时候,电源VCC通过M1和Rg给Cgs,Cgd充电,从而使MOSFET开通,其充电简化电路见图2。当M1关断,M2开通的时候,Cgs通过Rg和M2放电,从而使MOSFET关断,其放电简化电路见图3。
图 1. 功率器件驱动电路
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图 2. 开通时的简化电路及充电电流
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图 3. 关断时的简化电路及放电电流
驱动电路的驱动能力影响功率器件的开关速度,进而影响整个系统的效率、电磁干扰等性能。驱动能力太强会导致器件应力过高、电磁干扰严重等问题; 而驱动能力太弱会导致系统效率降低。因此,选择一个适当驱动能力的芯片来驱动功率器件就显得至关重要。
衡量驱动能力
的主要指标
驱动电流
和驱动速度
衡量一个驱动芯片驱动能力的指标主要有两项:驱动电流和驱动的上升、下降时间。这两项参数在一般驱动芯片规格书中都有标注。而在实际应用中,工程师往往只关注驱动电流而忽视上升、下降时间这一参数。事实上,驱动的上升、下降时间这个指标也同样重要,有时甚至比驱动电流这个指标还重要。因为驱动的上升、下降时间直接影响了功率器件的开通、关断速度。
图 4. MOSFET开通时驱动电压和驱动电流
图4显示了一个MOSFET开通时门极驱动电压和驱动电流的简化时序图。t1到t2这段时间是门极驱动的源电流(IO+)从零开始到峰值电流的建立时间。在t3时刻,门极电压达到米勒平台,源电流开始给MOSFET的米勒电容充电。在t4时刻,米勒电容充电完成,源电流继续给MOSFET的输入电容充电,门极电压上升直到达到门极驱动的电源电压VCC。同时在t4到t5这个期间,源电流也从峰值电流降到零。
这里有一个很重要的阶段:t1到t2的源电流的建立时间。不同的驱动芯片有不同的电流建立时间,这一建立时间会影响驱动的速度。
测试对比
以下通过实测两款芯片SLM2184S和IR2184S的性能来说明驱动电流建立时间对驱动速度的影响。
表格1对比了SLM2184S和IR2184S的各项测试。虽然SLM2184S的峰值源电流[IO+]和峰值灌电流[IO-]比IR2184S的测试值偏小,但是SLM2184S的电流建立时间远比IR2184S的建立时间更短。
表格1:SLM2184S 和IR2184S驱动电流和驱动时间对比
因此,在负载电容(比如MOSFET的输入电容)较小的时候,SLM2184S的驱动速度并不比IR2184S的驱动速度慢。如在1nF的负载电容下,两者的驱动速度基本一致。只有当负载电容较大的时候,如在3.3nF的情况下,SLM2184S的驱动速度才会比IR2184S慢。
实测
SLM2184S vs IR2184S
驱动测试对比
✔ 图5~图16: 实测SLM2184S的驱动电流和驱动时间的波形。
✔ 图17~图28: 实测IR2184S的驱动电流和驱动时间的波形。
SLM2184S驱动测试
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CH1: 驱动输入; CH2: 驱动输出; CH4: 驱动源电流
图5:SLM2184S的驱动源电流
负载电容100nF
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图6:SLM2184S的驱动源电流上升速度
负载电容100nF
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图7:SLM2184S的驱动灌电流
负载电容100nF
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图8:SLM2184S的驱动灌电流上升速度
负载电容100nF
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图9:SLM2184S的驱动上升速度
负载电容1nF
CH2: 驱动输出
图10:SLM2184S的驱动上升速度
负载电容1nF
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图11:SLM2184S的驱动下降速度
负载电容1nF
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图12:SLM2184S的驱动下降速度
负载电容1nF
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图13:SLM2184S的驱动上升速度
负载电容2.2nF
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图14:SLM2184S的驱动上升速度
负载电容3.3nF
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图15:SLM2184S的驱动下降速度
负载电容2.2nF
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图16:SLM2184S的驱动下降速度
负载电容3.3nF
IR2184S驱动测试
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CH1: 驱动输入; CH2: 驱动输出; CH4: 驱动源电流
图17:IR2184S的驱动源电流
负载电容100nF
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CH1: 驱动输人; CH2: 驱动输出; CH4: 驱动源电流
图18:IR2184S的驱动源电流上升速度
负载电容100nF
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CH1: 驱动输入; CH2: 驱动输出; CH4: 驱动灌电流
图19:IR2184S的驱动灌电流
负载电容100nF
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CH1: 驱动输入; CH2: 驱动输出; CH4: 驱动灌电流
图20:IR2184S的驱动灌电流上升速度
负载电容100nF
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CH1: 驱动输入; CH2: 驱动输出; CH4: 驱动源电流
图21:IR2184S的驱动上升速度
负载电容1nF
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CH2: 驱动输出
图22:IR2184S的驱动上升速度
负载电容1nF
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CH1: 驱动输入; CH2: 驱动输出; CH4: 驱动灌电流
图23:IR2184S的驱动下降速度
负载电容1nF
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CH2: 驱动输出
图24:IR2184S的驱动下降速度
负载电容1nF
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CH2: 驱动输出
图25:IR2184S的驱动上升速度
负载电容2.2nF
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CH2: 驱动输出
图26:IR2184S的驱动上升速度
负载电容3.3nF
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CH2: 驱动输出
图27:IR2184S的驱动下降速度
负载电容2.2nF
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CH2: 驱动输出
图28:IR2184S的驱动下降速度
负载电容3.3nF
测试总结
从以上实验测试可以看到,驱动芯片的驱动速度不仅取决于驱动电流的大小,还受到诸如驱动电流建立时间、MOSFET的输入电容等因素的影响。有些驱动芯片的驱动电流虽然比较大,但由于它的电流上升和下降速度很慢,并没有很好地发挥大驱动电流的作用,甚至在大部分应用场合下驱动速度(tr和tf)不如驱动电流小的驱动芯片。因此,在选择驱动芯片的时候,不仅要关注驱动电流的大小,也要关注在一定负载电容下的上升、下降时间。当然最为妥当的办法是根据实际选择的功率管测量驱动端的波形,从而判断是否选择了合适的驱动芯片。
关于数明半导体
上海数明半导体有限公司成立于2013年,聚焦于高性能模拟芯片设计以及系统的整体解决方案,产品包括驱动芯片、隔离器、电源管理以及智能光伏方案等,产品可广泛应用在工业控制、电源、光模块、新能源以及汽车等领域。公司总部位于上海松江G60科创走廊-科技绿洲,在深圳南山、浦东张江等地建立了分支机构。
数明半导体的核心研发和管理团队由一批来自业界顶级半导体设计公司的资深专家们组成。公司拥有独立自主知识产权和丰富的IP积累,已获得24项专利授权并于2020年获评为“高新技术企业”。
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